雙光束紫外可見分光光度 型號：760CRT
適用范圍
是引進吸收日本島津先進技術基礎上推出的自動記錄分光光度計。特別適應于實驗室的日常分析和研究工作的需要。
性能指標
●波長范圍：190nm-900nm
●透射比準確度：優(yōu)于±0.3％(τ)(用NBS930濾光片測定)
●波長準確度：≤±0.3nm(內裝自動波長校正裝置)
●分辨率：優(yōu)于0.15nm
●波長重復性：<0.2nm
●雜光：優(yōu)于0.08%(在220nm處，以Nal測定)
●波長掃描速度：FAST(高速)、M(中速)、SLOW(低速)
●光譜帶寬：0.08nm-5nm連續(xù)可變。每隔0.1nm用數字設定。
產品特點
●采用全息閃耀光柵，雙光束C-τ式光路結構，高分辨率，低雜散光。測光精度高。
●微機控制、圖表合一的繪圖打印、自動記錄。
●自動轉換光源，(可在294nm-364nm之間設定)。
●可容易地獲得1-4階微分光譜。
●具有自動掃描、時間掃描、波長程序、2λ和3λ測定、動力學測定、光譜存儲等功能。
●軟件基于windows98平臺，下拉菜單立波長、多波長測試，吸收對數或快捷鍵形式來選擇功能。光譜掃描和定量測定可同時進行。信息存貯容量大，保存方便。
●有功能極強的光譜處理能力。
●可進行1-3曲線擬合及異常點剔除。
