光切法顯微鏡 型號：9J
一、用途：
本儀器以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判別國家標準GB 1031-68所規(guī)定▽3-▽9級表面光潔度。（表面粗糙度 
）
對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的關(guān)況下進行的。是一種間接測量方法。即要經(jīng)過計算后才能確定紋痕的不平度。
二、規(guī)格：
| 測量范圍不平度平均高度值（微米） | 表面光潔度 級別 |
所需物鏡 | 總放大倍數(shù) | 物鏡組件工作 距離 （毫米） |
視場 （毫米） |
| ＞0.8～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80 |
9 8～7 6～5 4～3 |
60倍N.A.0.55 30倍N.A.0.40 14倍N.A.0.20 7倍N.A.0.12 |
510倍 260倍 120倍 60倍 |
0.04 0.2 2.5 9.5 |
0.3 0.6 1.3 2.5 |
