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鉑電阻 型號(hào):LN030
鉑電阻介紹
*Pt20為直接銷售元件，其余為封裝成品后銷售。 二、云母鉑電阻、玻璃鉑電阻和陶瓷內(nèi)繞式鉑電阻。 1、云母鉑電阻、玻璃鉑電阻都為外繞式，優(yōu)點(diǎn)在于工藝簡(jiǎn)單、生產(chǎn)成本低，缺點(diǎn)是不抗振，特別是溫度較高時(shí)易失效。失效的原因主要是骨架的熱膨脹系數(shù)遠(yuǎn)小于鉑絲的膨脹系數(shù)，高溫時(shí)造成鉑絲與骨架間隙過(guò)大，即松動(dòng)，加之外界振動(dòng)，骨架對(duì)鉑絲失去約束能力導(dǎo)致匝間短路；另外長(zhǎng)時(shí)間振動(dòng)即使在低溫環(huán)境也會(huì)造成骨架對(duì)鉑絲的磨損而阻值增大或斷路。該結(jié)構(gòu)有一種無(wú)法克服的缺點(diǎn)，即隨高低溫度變化有一種蠕動(dòng)抻長(zhǎng)鉑絲的因素，久之，使其阻值有明顯增大。 2、陶瓷內(nèi)繞式鉑電阻，它的優(yōu)點(diǎn)在于制造工藝簡(jiǎn)單，外觀好，可在很低的溫度下使用（如-200℃），缺點(diǎn)是振動(dòng)場(chǎng)合不能勝任。它的結(jié)構(gòu)是將鉑絲制成彈簧狀，貫穿于兩孔或四孔的精制瓷管中，將各孔中的鉑絲進(jìn)行串聯(lián)于一端引線引出。不抗振的原因在于：它的內(nèi)部繞阻好比垂吊的電爐絲，在高溫狀態(tài)時(shí)，好似電爐絲通電，電爐絲通電后爐絲變軟，隨時(shí)間的延長(zhǎng)出現(xiàn)上部爐絲匝間距增大，下部爐絲匝間距減小，爐絲的通電電流越大，溫度越高，效果越明顯，這時(shí)稍有振動(dòng)，下部匝間就會(huì)短路，內(nèi)繞式鉑電阻之所以溫度越高時(shí)越不抗振就是這個(gè)道理。后來(lái)人們?yōu)榱私鉀Q這一問題，將孔內(nèi)灌上陶瓷顆粒來(lái)約束鉑絲，但事實(shí)上時(shí)間一長(zhǎng)，該陶瓷顆粒的棱角磨掉后，充填的陶瓷在孔內(nèi)又松動(dòng)還是出現(xiàn)上述問題。為此人們?yōu)榱藴y(cè)量高溫有振動(dòng)的場(chǎng)合，采用了較粗直徑的鉑絲制成Pt100或Pt10來(lái)進(jìn)行，這樣的確起到了效果，由于鉑絲直徑加粗，不論在低溫還是高溫狀態(tài)，它的剛度都在加強(qiáng)，所以能適用。但也未從根本上解決。 另外，陶瓷內(nèi)繞式鉑電阻，不論是在低溫或高溫振動(dòng)場(chǎng)合都存在著繞阻與骨架間的磨擦問題，數(shù)值會(huì)隨使用時(shí)間的延長(zhǎng)而增大或斷路。 三、膜式鉑電阻 膜式鉑電阻，從根本上解決了前三種形式鉑電阻的弊病，但由于所用金屬太少（一般薄膜厚度3μM，厚膜厚度7μM），它的抗過(guò)載能力很差，當(dāng)焊接時(shí)電流誤通過(guò)電阻體構(gòu)成回路時(shí)，將原來(lái)的精度改變。另外，由于100Ω的線條過(guò)于集中在3.2×1.6MM的陶瓷基片上，而且單面受熱，使得它的自熱系數(shù)增大，所以它的檢測(cè)電流只有0.5mA以下，而我國(guó)目前生產(chǎn)和使用的二次儀表給一次元件提供的檢測(cè)電流為1--5mA（一般為3mA），這樣一來(lái)元件會(huì)由于檢測(cè)電流過(guò)大而產(chǎn)生的溫度升高超過(guò)了標(biāo)準(zhǔn)。另外膜式電阻易產(chǎn)生曲膚性變形而數(shù)值改變，曲膚性變形是由于鉑膜的熱膨脹系數(shù)遠(yuǎn)大于陶瓷基片的膨脹系數(shù)，經(jīng)長(zhǎng)期的往復(fù)疲勞而成，此時(shí)的膜是時(shí)斷時(shí)續(xù)的與陶瓷基片連結(jié)，線條的長(zhǎng)度增長(zhǎng)，數(shù)值增大。這就是膜式電阻在200℃以上環(huán)境中工作易出現(xiàn)斷路或數(shù)值不穩(wěn)的主要原因。另外由于鍍膜只有3μm的厚度，引腳與膜的焊接雖然采用較高手段的激光焊接，但其焊接質(zhì)量仍達(dá)不到可靠，一般使用1個(gè)月以后就陸續(xù)產(chǎn)生斷路和接觸不良的現(xiàn)象。而這種現(xiàn)象只是在百分之幾的概率內(nèi)發(fā)生，人們很難一下判斷原因。往往該元件大多數(shù)是進(jìn)口的，人們又不情愿懷疑進(jìn)口產(chǎn)品的質(zhì)量。經(jīng)過(guò)近十來(lái)年的挫折人們開始認(rèn)識(shí)到薄膜元件的弊端，開始了新的思考和選擇。多數(shù)人認(rèn)為它使用≤100℃B級(jí)合適。 膜式鉑電阻的自熱現(xiàn)象往往被人們忽視。如在多路巡檢系統(tǒng)中使用薄膜鉑電阻，人們會(huì)發(fā)現(xiàn)為什么每一路數(shù)據(jù)的顯示時(shí)間內(nèi)數(shù)字總是慢慢增長(zhǎng)，有人認(rèn)為表的質(zhì)量不好或者系統(tǒng)溫場(chǎng)不穩(wěn)，其實(shí)不然，它是由于當(dāng)前顯示路數(shù)的鉑電阻在顯示之前是與被檢測(cè)的環(huán)境溫度相同的，該路元件沒有檢測(cè)電流，當(dāng)顯示到該路時(shí)，由模擬開關(guān)給該路的鉑電阻接通檢測(cè)電流，同時(shí)產(chǎn)生了Q＝0.24I2Rt的熱效應(yīng)（即自熱）。由于薄膜元件的體積很小，所以它加熱效果明顯，表上顯示數(shù)值的增長(zhǎng)過(guò)程就是薄膜元件體溫度高出環(huán)境溫度的過(guò)程。自熱系數(shù)大的元件對(duì)檢測(cè)電流的精度要求苛刻，所以它不適合高精密測(cè)量。線繞式鉑電阻在這方面之所以好就是由于它的體積較大，散熱面積大，自身的熱容量也大，在選件時(shí)主要是根據(jù)您的具體要求，看注重哪一方面。 往往在同一巡檢儀上，（一般檢測(cè)電流2-3mmA）同時(shí)用線繞電阻和薄膜電阻進(jìn)行同一溫場(chǎng)測(cè)試比較，薄膜電阻顯示的數(shù)據(jù)要比線繞電阻顯示的數(shù)據(jù)高出1-2℃。 選型參考: 1、選擇壽命長(zhǎng)的元件，抗振元件是長(zhǎng)壽命的保證。 2、選擇元件的溫度范圍要考慮現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際情況的最大值(過(guò)沖溫度) 3、選擇精度 要根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)要求而定，一般要求能滿足即可，不苛求高精度，精度越高成本越高 (1)一般工業(yè)使用B級(jí):±(0.30+0.005|t|)℃ (2)較精密場(chǎng)合使用A級(jí)：±(0.15+0.002|t|)℃ (3)更精密場(chǎng)合使用(1/3B級(jí))也叫超A級(jí)±(0.10+0.0015|t|)℃ 建議使用700℃元件，即使使用溫度不高，該件長(zhǎng)期穩(wěn)定性更好,一般可做計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器。 (4)如果多路巡檢要求高精密一致，超A級(jí)不能滿足的場(chǎng)合，建議使用R。、A、B參數(shù)的元件，按線性公式Rt=R。(1+At+Bt)計(jì)算，理論稱無(wú)誤差測(cè)量。但要求儀器本身各路有R。、A、B參數(shù)的修改設(shè)定功能，一般用于計(jì)量?jī)x器和試驗(yàn)儀器。 (5)精度確定后還得看您所用的二次儀表給一次元件提供的檢測(cè)電流(一般在儀表說(shuō)明書中不提，您可向儀表生產(chǎn)廠家索取)如電流在3mA或5mA這時(shí)就得考慮所選用元件的抗自熱能力。如果電流在≤0.5mA可用薄膜元件。往往檢測(cè)電流小二次儀表的增益大，穩(wěn)定性差。 4、結(jié)構(gòu)形式及材料選擇 目前元件都做得比較小，儀器設(shè)備也越來(lái)越向節(jié)約型及小型發(fā)展，所以盡可能小一些，如：ф2、ф3、ф4、ф5、ф6、ф8等，一般根據(jù)用戶要求將圖紙傳真過(guò)來(lái)，在結(jié)合元件的封裝工藝，雙方達(dá)成共識(shí)后落實(shí)。(參考WZP系列鉑電阻) 5、選擇元件同時(shí)主要是選擇供應(yīng)商，因?yàn)檎l(shuí)都說(shuō)自己的產(chǎn)品好，使得用戶無(wú)法從簡(jiǎn)單的參數(shù)指標(biāo)上和有關(guān)證明上區(qū)別哪家的產(chǎn)品真好，只有開始時(shí)由多個(gè)供應(yīng)商小批量供貨試用，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間才能顯現(xiàn)出哪家的產(chǎn)品真好，才能去劣存真，選著好的元件是您的運(yùn)氣，選不著好的元件是您的苦腦。年用量較大的配套廠家選擇供應(yīng)商時(shí)，一定要選擇電阻芯的生產(chǎn)供應(yīng)商，這是根，因?yàn)樗屑夹g(shù)保證和很大的庫(kù)存，能保證您批量購(gòu)貨及時(shí)精度準(zhǔn)確和一致。只搞封裝的廠家在少量供貨時(shí)能保證質(zhì)量，量大時(shí)它無(wú)法承受篩選后下來(lái)元件的不消化損失。 |
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