冠層分析系統(tǒng) 型號(hào):SunScan
用途：
通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖。
原理：
根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來(lái)測(cè)量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。
組成：
SS1探頭：一支1米長(zhǎng)，內(nèi)嵌64個(gè)光合有效輻射傳感器
SunData軟件：用來(lái)對(duì)測(cè)量參數(shù)進(jìn)行分析處理
BF3傳感器：可計(jì)算出作物冠層的PAR以及直射光與漫射光的比例關(guān)系。減少太陽(yáng)變化對(duì)測(cè)量造成的影響。
三角架：用來(lái)安放BF3
數(shù)據(jù)采集終端：采集和分析讀數(shù)。
參數(shù)：
探測(cè)器工作區(qū)域：1000×13mm寬，傳感器間距15.6mm
探測(cè)器光譜響應(yīng)：400 ~ 700nm (PAR)；
探測(cè)器測(cè)量時(shí)間：120ms；
探測(cè)器分辨率：0.3μmol. m-2.s-1；
探測(cè)器最大讀數(shù)：2500μmol.m-2.s-1
操作溫度：0 ~ 60℃；
內(nèi)存：2M內(nèi)存，包含程序；1600K RAM 可用于儲(chǔ)存數(shù)據(jù)；
