氦質譜檢漏儀 型號：SFJ-251
SFJ-251系列氦質譜檢漏儀是我公司借鑒國外先進檢漏技術和多年質譜生產(chǎn)經(jīng)驗設計而成的專門用于電子元器件檢漏的儀器，包括SFJ-251，SFJ-251B，SFJ-251C三種型號，該系列產(chǎn)品外觀一致，采用人性化設計，操作簡單、方便。將被廣泛的用于集成電路、半導體、電子元器件、繼電器、晶體諧振器、真空元器件等行業(yè)。
主要技術指標（SFJ-251/251B/251C）：
最小可檢漏率： 5×10-12/8×10-13/2×10-11Pa·m3/s
漏率顯示范圍： 1×10ˉ3～1×10ˉ12/1×10ˉ3～1×10ˉ13/1×10ˉ4～1×10ˉ11Pa·m3/s
啟動時間： ≤5min/2min/5min
響應時間： ≤2s/1s/2s
檢漏口最高壓力： 1000Pa/2000Pa/300Pa
極限真空： 5×10-4Pa
外形尺寸： 700(W)×580(D)×800(H)
優(yōu)勢：
全自動控制操作模式，操作方便，檢漏腔關閉，儀器自動開始檢漏；
速度快，可根據(jù)檢漏要求調整節(jié)拍速度,自動打開腔門；
人性化設計，帶液晶顯示、檢漏結果清晰、可帶微打；
關鍵部件采用進口，性能穩(wěn)定、可靠。
配置（SFJ-251/251C）：
進口復合型分子泵
萊寶機械泵
進口電磁閥
進口放大器
配標準漏孔
液晶顯示
配置（SFJ-251B）：
采用INFICON成套質譜模塊
